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OLED 模组老化测试系统
应用 -OLED PM/AM 模组老化测试 -CC/CV DC/Pulse老化 -漏电流检测 -Multi-Channel操作 -根据客户的需求设计夹具(Jig
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OLED 残影测试系统
是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统,采用高灵敏度的快速亮度计,实现高效表征屏幕的残影现象;主要功能• 短期残影测试;• 亮度均匀性测试;• 屏幕长期稳定性测试软件界面
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模组寿命测试系统
一、平铺式模组寿命测试系统平铺式模组寿命是通过亮度计来采集发光模组的亮度变化,从而计算lifetime 的系统。平铺式模组寿命通过把亮度计搭载再由X、Y、Z 三个自动运动直线模组构成的运动平台
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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LED-COB模组测试系统
COB模组测试系统 COB LED发光原理说明: 发光结构是由蓝光基板激发荧光胶体组合而成,而产生白光的效应可分解为蓝光,被荧光胶体吸收的蓝光与吸收蓝光转换的
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OLED柔性发光屏拉伸弯折扭曲及光学测试系统
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OLED Panel老化测试系统
应用: -Multi-Channel OLED PM/AM Panel老化测试系统 -输出电压范围:-20~+20V -输出电流范围:+500mA(For mono cell
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日本EHC OLED的老化评估测量系统ELS-100
ELS-100 OLED的老化评估系统。一个随时间变化的评估系统,只需设置OLED元件就能在很长一段时间内测量发光特性。ELS-100是一个OLED设备,开机时间长,然后关机。这个评估系统通过捕捉
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OLED屏幕 手机及车载、机载显示屏高低温及寿命测试系统
多工位高低温环境寿命测试系统是一款针对于需要模拟不同温度环境下的产品寿命评估而研发的一款产品。主要是对于手机模组、穿戴式发光面板、车载显示屏等产品需要在不同温度区间工作,而在生产、研发阶段就需要提供
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LCD\OLED 激光修补模组
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